逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究

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Title:	逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究
Authors:	姜曉玲;Xiao-Ling Jiang
Contributors:	統計研究所
Date:	2001-06-15
Issue Date:	2009-09-22 10:57:56 (UTC+8)
Publisher:	國立中央大學圖書館
Abstract:	傳統上，常使用加速壽命試驗(ALT)及加速衰變試驗(ADT)去進行高可靠度產品壽命的評估，而Tseng&Wen (2000)所提出的逐步應力加速衰變試驗(SSADT)較ALT 及ADT 更能有效縮減試驗時間及試驗的成本。而在Tseng&Wen (2000)中假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分配，這與實際的情況並不符合；於是吳明霞(2000) 的文章假設產品的品質特性值是以Wiener 過程進行且利用此模型下所對應的產品壽命為一轉換型逆高斯分配來探討產品的壽命。本篇文章將在二種不同衰變模式假設下，一為一般常使用的在Si應力水準下，考慮產品的衰變路徑為L(t\| Si)=exp{-βi tα}；另一個則是考慮產品的衰變路徑為L(t\| Si)=exp{-(α+βi t)}，分別進行逐步應力加速衰變試驗。而在進行逐步應力加速衰變試驗時，分別用二種方法處理，一為假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分布；二為假設產品品質特性值是Wiener 過程。且在相同的衰變模式與試驗條件下分別用兩種方法進行試驗，並比較其結果。目的在幫助我們了解在不同的衰變模式下進行逐步應力加速衰變試驗，其在二種不同的產品品質特性值假設下，所得到的結果是否有差異。 none
Appears in Collections:	[Graduate Institute of Statistics] Electronic Thesis & Dissertation

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